材料表征方法有哪些？

材料的表征方法包括納米顆粒的XRD表征、納米顆粒的透射電鏡和光譜分析、納米顆粒的掃描透射電鏡、納米團簇的掃描探針顯微鏡、納米材料的光譜學和自組裝納米結構材料的NMR表征。

材料表征的常用方法

1.微觀形態學

形貌分析的主要內容是分析材料的幾何形貌、粒度和粒度分布，以及形貌微區的成分和相結構。

形貌分析方法主要有:掃描電鏡SEM、透射電鏡TEM、原子力顯微鏡等。

如下圖所示

2.相位結構分析

常用的物相分析方法有X射線衍射分析、激光拉曼分析、傅裏葉紅外分析和微區電子衍射分析。

具體方法如下圖所示。

3.分量分析

大宗元素成分分析是指大宗元素成分和雜質成分的分析，其方法有原子吸收、原子發射ICP、質譜、X射線熒光、X射線衍射等。其中，前三種分析方法在測定前需要溶解樣品，因此屬於破壞性樣品分析方法；x射線熒光和衍射分析法可以直接測定固體樣品，所以也叫非破壞性元素分析法。